Substrato in quarzo fuso rettangolare con scanalatura 18+1, 120x5x3,5 mm, supporto per componenti ottici

Il substrato rettangolare scanalato in quarzo 18+1 è una piattaforma di quarzo fuso lavorata di precisione progettata per alloggiare componenti ottici, campioni per test spettrali e campioni microanalitici. Con dimensioni complessive di 120x5x3,5 mm, il substrato presenta 18 scanalature rettangolari standard più 1 scanalatura di riserva, ciascuna lavorata con una larghezza uniforme di 1,8 mm e una profondità ordinata e costante. Le superfici lucidate di alta precisione su entrambi i lati offrono una planarità superiore e una finitura antigraffio, proteggendo i delicati pezzi durante il carico e lo scarico. Realizzato in quarzo ad alta purezza, il substrato offre un'eccellente resistenza alle alte temperature e stabilità chimica, rendendolo una piattaforma durevole e affidabile per test ottici di precisione e applicazioni di laboratorio.

• Profondità scanalatura ordinata e uniforme: Tutte le 18 scanalature standard e la fessura di riserva sono lavorate con profondità e geometria costanti, garantendo un alloggiamento uniforme dei pezzi.
• Design a 18+1 scanalature: La scanalatura di riserva aggiuntiva offre una capacità flessibile per campioni aggiuntivi o posizionamento di ricambio durante i test.
• Lucidatura di alta precisione su entrambi i lati: Entrambe le facce sono rifinite secondo uno standard liscio e resistente ai graffi che protegge i componenti ottici e i campioni da danni.
• Alta purezza e resistenza alle alte temperature: Il corpo in quarzo fuso resiste a temperature elevate senza deformazioni, ammorbidimenti o contaminazioni.
• Eccellente stabilità chimica: Il substrato resiste all'umidità, agli acidi deboli e ai comuni reagenti di pulizia, mantenendo le superfici delle scanalature pulite e affidabili per una lunga durata.

Il substrato rettangolare scanalato in quarzo 18+1 è progettato per ambienti di laboratorio e ottici in cui è richiesto un posizionamento preciso e stabile di piccoli componenti. È ampiamente utilizzato come portacomponenti ottici, alloggiando lenti, specchi ed elementi filtranti in modo sicuro nelle scanalature lavorate durante l'ispezione e l'assemblaggio. Nelle apparecchiature per test spettrali, il substrato posiziona i micro campioni a un'altezza e un orientamento costanti, migliorando la ripetibilità delle misurazioni spettrali. La piattaforma serve anche come piattaforma di posizionamento per micro campioni per strumenti analitici, fornendo una superficie pulita, piana e chimicamente inerte che non interferisce con i risultati delle misurazioni. Grazie alle sue tolleranze strette delle scanalature e alla planarità superiore, il substrato è particolarmente adatto per applicazioni di test ottici di precisione che richiedono accuratezza dimensionale e manipolazione antigraffio di preziosi pezzi.

• Tolleranza dimensionale stretta per le scanalature: La larghezza e la profondità delle scanalature sono controllate entro limiti ristretti, garantendo un alloggiamento costante e un posizionamento affidabile dei componenti.
• Planarità superiore: La lucidatura di alta precisione fornisce una superficie di riferimento piana che supporta misurazioni ottiche stabili e ripetibili.
• Antigraffio durante la manipolazione dei pezzi: La finitura liscia e lucidata riduce al minimo il rischio di graffiare lenti, specchi e campioni durante il carico e lo scarico.
• Ideale per test ottici di precisione: La combinazione di materiale ad alta purezza, lavorazione di precisione e geometria stabile rende il substrato una piattaforma affidabile per flussi di lavoro di ispezione impegnativi.